??GB-T 2423.01-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗A: 低溫
??GB-T 2423.02-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗B:高溫
??GB-T 2423.03-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗
??GB-T 2423.04-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h 循環)
??GB-T 2423.17-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法_試驗Ka鹽霧
??GB-T 2423.18-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
??GBT 2423.37-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L 沙法試驗
??GB-T 2423.34-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環試驗
??GBT 2423.56-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數字控制)和導則試驗 IEC 68-2-1 試驗方法 A:冷
??IEC 68-2-2 試驗方法 B:干熱
??IEC 68-2-3 試驗方法 Ca:穩態濕熱
??IEC 68-2-11 試驗方法 Ka:鹽霧
??IEC 68-2-13 試驗方法 M:低壓
??IEC 68-2-14 試驗方法 N :溫度變化
??IEC 68-2-5 試驗方法 Sa:地面太陽輻射模擬
??IEC 68-2-6 試驗方法 Fc 及指引:正弦振動
??IEC 68-2-7 試驗方法 Ga 及指引:穩態加速度
??IEC 68-2-9 太陽輻射試驗指引
??IEC 68-2-10 試驗方法 J 及指引:霉菌